電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短(波粒二象性),而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制,因此電子顯微鏡的理論分辨率(約0.1納米)遠高于光學顯微鏡的分辨率(約200納米)。
透射電子顯微鏡(Transmission electron microscope,縮寫TEM),簡稱透射電鏡 ,是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關,因此可以形成明暗不同的影像,影像將在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件)上顯示出來。
掃描電鏡雖然是顯微鏡家族中的后起之秀,但由于其本身具有許多的優(yōu)點,植物抗性淀粉檢測服務,發(fā)展速度是很快的。
1 儀器分辨率較高,通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細節(jié),采用LaB6電子,可以進一步提高到3nm。
2 儀器放大倍數(shù)變化范圍大,且能連續(xù)可調。因此可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場進行觀察,同時在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達到的高亮度的清晰圖像。
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