標(biāo)準(zhǔn)試塊規(guī)格
一、尺寸與形狀.
標(biāo)準(zhǔn)試塊是用于評估材料性能的重要工具,期寸與形狀的精l確性直接影響到測試結(jié)果的可靠性。以下為標(biāo)準(zhǔn)試塊
的基本尺寸與形狀要求:
1.尺寸:
長度:通常為150mm ,允許誤差士1mm。
。寬度:通常為50mm ,允許誤差+0.5mm.
高度(或厚度) :根據(jù)具體測試需要,通??蛇x10mm、20mm、30mm等,允許誤差+0.5mm.
2.形狀:
。標(biāo)準(zhǔn)試塊通 常為長方體形狀,四個側(cè)面應(yīng)相互垂直,且底面應(yīng)平整。
。邊緣應(yīng)無明顯的倒角或銳角 ,以保證測試時受力的均勻性。
常用滲透探傷所用試塊分類鋁合金試塊主要用于以下兩種情況:
a) 在正常使用情況下,檢驗滲透檢測劑能否滿足要求,非標(biāo)試塊,以及比較兩種滲透檢測劑性能的優(yōu)劣;
b) 對用于非標(biāo)準(zhǔn)溫度下的滲透檢測方法作出鑒定。
鍍鉻試塊主要用于檢驗滲透檢測劑系統(tǒng)靈敏度及操作工藝正確性。
著色滲透檢測用的試塊不能用于熒光滲透檢測,反之亦然。
發(fā)現(xiàn)試塊有阻塞或靈敏度有所下降時,必須及時修復(fù)或更換。
試塊使用后要進行全部清洗
超聲波特點:
1.在空氣中不能傳播,遇到空氣100%反射。
2.超聲波在行經(jīng)介質(zhì)時,若遇到不同密度或彈性系數(shù)物質(zhì)時,即會產(chǎn)生反射回波的特性,而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異。
超聲波檢測原理:
C-SAM檢測(超聲波檢測)即利用此特性來檢出材料內(nèi)部的缺陷并依所接收之訊號變化將之成像。
因此,只要被檢測的IC上表面或內(nèi)部晶片構(gòu)裝材料的界面有離層、空洞、裂縫等缺陷時,即可由C-SAM影像得知缺陷相對位置。
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