x射線發(fā)生裝置使用范圍:
金屬材料:半導(dǎo)體材料、合金、超導(dǎo)材料、粉末冶金材料;無機(jī)材料:陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃;復(fù)合材料:碳纖維、纖維大分子、工業(yè)廢棄物;有機(jī)材料:品、工程塑料、各種樹脂等。利用波長很短的電磁波能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感、氣體電離,低能x射線發(fā)生裝置,測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。
什么是x射線發(fā)生裝置
X射線衍射儀(X-ray diffractometer,低能x射線發(fā)生裝置價格,XRD)是利用X射線衍射原理研究物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互,用生成的衍射圖譜來分析物質(zhì)結(jié)構(gòu)。它是在X射線晶體學(xué)領(lǐng)域中在原子尺度范圍內(nèi)研究材料結(jié)構(gòu)的主要儀器,也可用于研究非晶體。由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序,只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序,故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
x射線發(fā)生裝置角度校準(zhǔn)的光學(xué)新方法
目前x射線發(fā)生裝置的角度檢定和校準(zhǔn)測試主要依據(jù)JJG 629—1989《多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程》和JB/T 9400—2010《X射線衍射儀技術(shù)條件》等技術(shù)文件,具體方法是采用光學(xué)經(jīng)緯儀或多面棱體等進(jìn)行測試,該測量方法實(shí)際應(yīng)用中存在一定難度,其次測量間隔較大,低能x射線發(fā)生裝置哪家好,不能很好反映真實(shí)的角度誤差規(guī)律.為此,提出了利用θ角和2θ角同軸并可獨(dú)立運(yùn)動的特點(diǎn),組合采用光電自準(zhǔn)直儀和小角度激光干涉儀等儀器,設(shè)計(jì)了一種新的XRD的角度校準(zhǔn)方法,它能夠自動快速地連續(xù)測量角度,取k=2時,擴(kuò)展不確定度約1.2″.使用該方法測試能夠得到θ和2θ軸的誤差數(shù)據(jù),可用于修正XRD測角誤差,提高XRD測試精度.該方法也適用于同步輻射等大型衍射系統(tǒng)等其他需要角度校準(zhǔn)的情況.
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