x射線發(fā)生裝置結(jié)構(gòu)組成:
(1)X射線發(fā)生器 —— 產(chǎn)生X射線的裝置;X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護電路等部分組成。
(2)測角儀 —— 測量角度2θ的裝置;測角儀是X射線衍射儀測量中部分,用來測量衍射角。
(3)X射線探測器 —— 測量X射線強度的計數(shù)裝置;計數(shù)器的主要功能是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成電脈沖信號。通常用于X射線衍射儀的輻射探測器有正比計數(shù)器、閃爍計數(shù)器和位敏正比探測器。
(4)X射線系統(tǒng)控制裝置 —— 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護系統(tǒng)。
x射線發(fā)生裝置應(yīng)用范圍:
工業(yè)用X射線衍射儀在當(dāng)今科技領(lǐng)域里用來分析各種物質(zhì)成分結(jié)構(gòu)的測試儀器已得到了廣泛的應(yīng)用。對材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、地質(zhì)、環(huán)境、納米材料、生物等領(lǐng)域來說,x射線發(fā)生裝置價格,X射線衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析,x射線發(fā)生裝置,大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析;晶體物質(zhì)晶粒大小的計算;晶體物質(zhì)結(jié)晶度的計算等。
x射線發(fā)生裝置的構(gòu)成
1、高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線,改變管陽極靶材質(zhì)可改變波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。
2、樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構(gòu)系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
3、射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,x射線發(fā)生裝置報價,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
4、衍射圖的處理分析系統(tǒng),現(xiàn)代X射線衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。
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