ICP光譜儀的校正方法
波長校正
波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩分部:首先通調整儀器來對光譜儀進行校正,然后是通過漂移補償?shù)霓k法減少因環(huán)境的變換導致譜線產生位移。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現(xiàn)的偏差別進行的校正,一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正,icp發(fā)射光譜儀,校正后所得數(shù)據即為對光譜彼進行校正的校正數(shù)據。
漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數(shù)關系,這種函數(shù)關系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產生的位移。漂移補償是一種常規(guī)監(jiān)視過程,其原理是在進樣間歇期間,監(jiān)測多條氫線波長,icp發(fā)射光譜儀多少錢,將實際值與理論值相比較,并對誤差進行補償。
ICP光譜儀主要用于微量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬和硅、磷、 硫等少量的非金屬,共 72 種。廣泛地應用于質量控制的元素分析,超微量元素 的檢測,尤其是在環(huán)保領域的水質監(jiān)測。還可以對常量元素進行檢測,例如組分 的測量中,主要成分的元素測定。
3ICP光譜儀是什么?
icp直讀光譜儀,又名電感耦合等離子體光譜儀,屬于光譜儀的一大分支,icp發(fā)射光譜儀價格,主要用于檢測微量及衡量元素的分析,可分析的元素為大多數(shù)的金屬元素,具體的檢測元素因為不同廠家采用的中心配件不同而不同,如有的光譜儀就可檢測118元素。因此icp光譜分析儀的使用范圍廣泛,被用于稀土、合金材料、電子產品的分析檢測,并且可對待測樣品進行定性或從超微量到常量的定量分析。
ICP光譜法的優(yōu)點
1. 因為ICP光源具有良好的原子化、激發(fā)和電離能力,所以它具有很好的檢出限。對于多數(shù)元素,其檢出限一般為0.1~100ng/ml。
2. 因為ICP光源具有良好的穩(wěn)定性,所以它具有很好的精密度,當分析物含量不是很低即明顯高于檢出,其RSD一般可在1%以下,好時可在0.5%以下。
3. 因為ICP發(fā)射光譜法受樣品基體的影響很小,所以參比樣品無須進行嚴格的基體匹配,同時在一般情況下亦可不用內標,也不必采用添加劑,因此它具有良好的準確度。這是ICP光譜法的優(yōu)點之一。
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